EPA-Anforderungen nach DIN EN 61340-5-1
| ESD-Kontrollelement | Produktqualifizierunga | Verifizierung der Einhaltungb | ||
| Prüfverfahren | Grenzwertec | Basierend auf Prüfverfahren | Grenzwertec | |
Arbeitsflächen, Lager- regale und Transport- wageng |
IEC 61340-2-3 | Rgp < 1 x 109 Ω Rp-p < 1 x 109 Ω |
IEC 61340-2-3 | Rg < 1 x 109 Ω |
|
Anschlusspunkt des Handgelenkerdungsbands |
- | - | - | Rg < 5 x 106 Ω |
| Bodenbelag | IEC 61340-4-1d, e |
Rgp < 1 x 109 Ω | IEC 61340-4-1 | Rg < 5 x 109 Ω |
| Ionisierung | IEC 61340-4-7 | Abbau (1000 V auf 100 V und -1000 V auf -100 V) < 20 s Offsetspannung < +/- 35 V |
IEC 61340-4-7 | Abbau (1000 V auf 100 V und -1000 V auf -100 V) < 20 s Offsetspannung < +/- 35 V |
| Sitzgelegenheiten | IEC 61340-2-3 (Messung des Widerstandes zum erdungsfähigen Punkt) |
Rgp < 1 x 109 Ω | IEC 61340-4-9 | Rg < 1 x 1011 Ω |
| EPA-Bekleidung | IEC 61340-4-9 |
Rp-p < 1 x 1011 Ω | IEC 61340-4-9 | Rp-p < 1 x 1011 Ω |
| Erdungsfähige EPA-Bekleidung |
IEC 61340-4-9 |
Rgp < 1 x 109 Ω | IEC 61340-4-9 | Rgp < 1 x 109 Ω |
| a | Für die Produktqualifizierung sollten die Umgebungsbedingungen für die Prüfung bei (12 ± 3) % relative Luftfeuchte und (23 ± 2) °C liegen. Wenn nicht in den verwiesenen IEC-Normen festgelegt, sollte die Mindestdauer zur Konditionierung auf Umgebungstemperatur für die Produktqualifizierung 48 h betragen. |
| b | Die Prüfverfahren in der Spalte für die Verifizierung der Einhaltung beziehen sich nur auf das grundlegende Prüfverfahren. Es wird nicht erwartet, dass die Prüfverfahren vollständig befolgt werden. |
| c | In dieser Tabelle verwendete Symbole: Rp-p bezieht sich auf den Punkt-zu-Punkt-Widerstand, Rg bezieht sich auf den Widerstand zu Masse und Rgp bezieht sich auf den Widerstand zum erdungsfähigen Punkt. |
| d | Die maximal zulässige Prüfspannung für die Messung von ESD-Bodenbelägen, die für ein mit dieser Norm übereinstimmendes ESD-Programm verwendet werden sollte, beträgt 100 V. |
| e | Wenn ein Bodenbelag verwendet wird, um das Personal zu erden, das ESDS handhabt, wird auf die Systemanforderungen nach Tabelle 2 verwiesen. |
| f | In Situationen, bei denen eine Schädigung durch das Charged Device Model (CDM) in Betracht gezogen werden muss, wird ein unterer Grenzwert des Punkt-zu-Punkt-Widerstandes Rp-p von 1 x 104 Ω empfohlen. |
| g | Arbeitsflächen sind festgelegt als jede Oberfläche, auf der ein ESD-empfindliches Element abgelegt wird. |
